HZJF-121模擬局部放電檢測儀是我公司研制開發(fā)生產(chǎn)的又一新穎儀器。它基本保持了前幾種儀器的優(yōu)點和功能，又根據(jù)當今國內(nèi)外局放儀研究領域的先進理論，參照國際電工委員會(IEC)標準，采用了先進電路，引用了先進技術，通過各地用戶廣泛試用后的不斷改進而成的，HZJF-121模擬局部放電檢測儀在設計上更完善，使用上更方便，性能上更可靠。

  操作說明

  (一)試驗準備

  1、檢查試驗場地的接地情況，將本儀器后部的接地螺栓38用粗銅線(最好用編織銅帶)與試驗場地的接地線妥善相接。輸入單元的接地短路片也要妥善接地。

  2、根據(jù)試品電容CX耦合電容CK的大小，選取合適序號的輸入單元，表一中調(diào)諧電容量系指從輸入單元初級繞組兩端看到的等效電容(可按CX與CK的串聯(lián)值粗略估算)。

  輸入單元應盡量靠近被測試品，輸入單元的“接放大器”Q9插座，經(jīng)8米長電纜與儀器后背板上的放大器輸入插座30(有綠色圈)相接。

  3、試品接入輸入單元的方法主要有以下幾種。

  并聯(lián)接法

  串聯(lián)接法

  平衡接法

  橋式接法

  圖中：CX——試品;CK——耦合電容;Z——阻塞阻抗;

  R3、C3、R4、C4——橋式接法中平衡調(diào)節(jié)阻抗。

  4、在高壓端接上高壓電阻R(50KV、100KV或以上)其輸出經(jīng)測量電纜接到后背板“接高壓電阻”輸入插座31(紅色)。

  5、在未加試驗電壓的情況下，用不接地的校正脈沖發(fā)生器(JZF-9或JZF-10均可，推薦使用JZF-9)的輸出經(jīng)接線盒接試品兩端，接線盒內(nèi)注入電容分C=10PF及100PF兩種，按C<0.1(CX+CK)選取(如使用JZF-9，其注入電容C已裝在盒內(nèi)一體化)。

  6、常用局部放電試驗電路

  使用步驟。

  1、開機準備

  將“時基頻率”選擇7置于“50(內(nèi))”、“時基工作方式”5置于“橢圓”。單次正常選擇開關18置于“正?！?。對數(shù)線性選擇開關 2置于線性。電源插座37接上220V工頻電源，將電源開關13按到“I”位置，開機預熱15分鐘以上。

  2、放電量校正與PC設定

  參照圖四接好線后，在未加試驗電壓前用JZF-9型校正脈沖發(fā)生器予以校正。其注入電量Q按發(fā)生器上指示的電壓U與接線盒上注入電容C的乘積計算Q=U·C。

  注意：接線盒應盡量靠近試品高壓端。

  如果使用JZF-9型校正脈沖發(fā)生器進行放電量的校正，其注入電量Q可按發(fā)生器上的檔位指示值直讀。

  然后調(diào)節(jié)“放大器增益調(diào)節(jié)”14與 16使注入脈沖高度適當(示波屏上顯示高度2cm以下);電表1示值與注入已知電量相符，PC設定后，“放大器增益細調(diào)”旋鈕14的位置不能再改變，在以后測試中放大器的頻帶也不能改變，須保持與校正時相同。

  去掉JZF校正脈沖發(fā)生器與試驗電路的連接。

  下面以圖四為例，介紹一種試驗方法：

  例：用JZF-9或JZF-10型方波發(fā)生器注入試品兩端的電量為50PC，調(diào)節(jié)JF-2002局放儀面板旋鈕16，在第三檔調(diào)節(jié)放大器增益細調(diào)旋調(diào)14，使其表頭“1”指示為滿度50PC。去掉方波發(fā)生器，加入試驗電壓，此時表頭1所指示值即為放電量值的大小的兩倍，如大于50PC時應衰減“16”一檔(“16”為放大器增益粗調(diào)共分5檔，每檔20dB，10倍的關系)。

  3、測試操作

  接通高壓試驗電路電源，將KV-PC選擇開關4置于“KV”,“零標選擇”開關29置于“R”位置，緩緩升高試驗電壓，橢圓上將出現(xiàn)兩個零標脈沖，零標相位差180°，如試驗電壓超過高壓電阻R的額定電壓等級，則可在低電壓下將“零標選擇”開關29置于“內(nèi)”位置，出現(xiàn)由儀器產(chǎn)生的輔助零標脈沖，這時可調(diào)節(jié)電位器27，使輔助零標相位與“R”檔時相符(極性也要一致)，則在高壓下不用高壓電阻“R”也可獲得正確的零標位置。

  旋轉“橢圓旋轉”9使橢圓轉到預期的在放電時能最利于觀察之處，通常這個位置是零標脈沖分別處于橢園上部左側及下部右側之處。連續(xù)升高電壓，注意第一次出現(xiàn)持續(xù)放電，當放電量超過規(guī)定的最低值時的電壓即為局部放電起始電壓。

  測試中常會發(fā)現(xiàn)有各種干擾出現(xiàn)，可籍“時間窗”開關20、21、用一個或兩個并用電位器19與 22來改變橢圓上加亮區(qū)域的寬度與位置。使其避開干擾脈沖。用時間窗裝置可以分別測量產(chǎn)生于兩個半波內(nèi)的放電量。

  4、頻率高于50HZ的局部放電試驗

  當須進行高于50HZ的局部放電試驗時，可將“時基頻率”選擇7按在相應頻率檔上，從高頻試驗電源中取10V-250V試驗電壓送入插座33上，(轉動“高頻電壓”選擇8，使橢圓大小適當即可，)

  當“高頻電壓”選擇8位置不當引起過載時，則電源會自動切斷，同時過載指示燈6亮，此時應將“高頻電壓”選擇8順時針方向轉到底，按一下“重新啟動”按鈕11即可恢復啟動(過載指示燈6滅)。示波屏上出現(xiàn)橢圓顯示。

  注意：為保護示波管，試驗電壓輸入“高頻電壓”選擇8所示值之比大于15%時才有橢園顯示。